تعداد ۱ پاسخ غیر تکراری از ۱ پاسخ تکراری در مدت زمان ۱,۰۲ ثانیه یافت شد.

1. Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis /

پدیدآورنده : by Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy.

کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)

موضوع : Materials science.,Measurement.,Microscopy.,Physical measurements.,Spectrum analysis.,Biological Microscopy.,Characterization and Evaluation of Materials.,Materials science.,Materials Science.,Measurement Science and Instrumentation.,Measurement.,Microscopy.,Physical measurements.,Spectroscopy and Microscopy.,Spectroscopy.,Spectroscopy/Spectrometry.,Materials science.,Measurement.,Microscopy.,Physical measurements.,Spectrum analysis.

رده :

TA404

.

6

»
1
«

تتم إدارة هذا الموقع عبر مؤسسة دار الحديث العلمية - الثقافية ومركز البحوث الكمبيوترية للعلوم الإسلامية (نور)
المكتبات هي المسؤولة عن صحة المعلومات كما أن الحقوق المعنوية للمعلومات متعلقة بها